Презентация испытательного оборудования АО «НИИЭТ» успешно прошла в Москве в «Крокус Экспо» на международной выставке Testing&Control. Были представлены: автоматическая камера для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар «АКТУ-001» и испытательные стенды серии «СИТ».