Испытательный центр НИИЭТ готовится к внедрению секционного стенда электротермотренировки и испытаний на безотказность электронных компонентов.
ССЭТ-16 разработан для проведения электротермотренировки интегральных микросхем в различном корпусном исполнении. Основная задача — отбраковка дефектных изделий и испытания на безотказность.
Подробнее: https://companies.rbc.ru/news/miJGM0Etb8/niiet-predstavil-novyij-metod-proverki-mikroshem/
