Отличная новость для всех, кто держит руку на пульсе отечественной радиоэлектроники и высоких технологий. Юбилейный, 10-й выпуск научно-технического журнала «СТЭК-В» поступил в продажу на маркетплейс OZON.
Редакция журнала, издателем которого является АО «НИИЭТ» (входит в Группу компаний «Элемент» MOEX: ELMT), собрала в 10-м номере материалы, посвященные вопросам разработки и производства электронной техники. Рассказываем о главных темах:
- Номер открывает интервью генерального директора АО «НИИЭТ» Павла Куцько — «Хочется перейти от этапа становления к этапу процветания». В нем он подводит итоги многолетней работы предприятия и анализирует вызовы, стоящие перед российской микроэлектроникой. В центре внимания — эффективность мер государственной поддержки, механизмы стимулирования спроса на отечественную электронную компонентную базу, а также развитие проектов на архитектуре RISC-V и технологий на основе нитрида галлия.
- В материале Д. М. Кирьянова и Д. Г. Бормотова «Этапы микроэлектронного производства и роль измерительного контроля на различных стадиях технологического процесса» подробно рассматривается весь путь создания микроэлектронных изделий — от подготовки пластин и зондового контроля до корпусирования и финальных испытаний. Авторы показывают, какую роль играет измерительный контроль в обеспечении качества продукции и на каких этапах технологического процесса возникают наиболее критичные риски.
- Статья ученых Национальной академии наук Беларуси А. И. Белоуса и Ю. С. Ушеренко посвящена актуальным подходам к защите технических и биологических объектов от электромагнитных излучений. Авторы рассматривают широкий спектр вопросов: от электромагнитной безопасности бытовой техники и транспорта для человека до повышения устойчивости космических аппаратов и электроники к импульсным угрозам (включая электромагнитное оружие).
- В этом номере читатели познакомятся с исследованием студентов физического факультета ВГУ, посвященным возможностям метода ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии при анализе тонких пленок силицидов молибдена-кремния. Проведенный фазовый анализ позволил выявить наличие фаз и , а полученные результаты подтвердили эффективность метода для изучения фазового состава тонкопленочных материалов и его перспективность для материаловедческих исследований.
- Особого внимания заслуживает работа выпускников факультета компьютерных наук и технологий Воронежского государственного лесотехнического университета имени Г. Ф. Морозова, посвященная разработке автоматизированной системы контроля качества интегральных микросхем на основе сверточных нейронных сетей.
Заказывайте 10-й номер на OZON (просто введите в поиске маркетплейса «журнал СТЭК-В»), внедряйте передовой опыт коллег и становитесь авторами следующих выпусков!
