Российский форум «Мироэлектроника» начнет свою работу в октябре, но уже сейчас в его рамках состоялись две предконференции в Москве.
Первая из них — «Доверенная и экстремальная электроника», прошла на базе Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС», ее тематика охватила широкий круг вопросов создания, применения и контроля работоспособности ЭКБ и РЭА общего и специального назначения.
В программу вошли следующие блоки:
• Экстремальная электроника.
• Радиоэлектронные модули и устройства.
• Технологии производства и маршруты проектирования.
• Доверенная электроника.
Блок «Доверенная электроника» (модератор кандидат технических наук) состоял из 29 докладов, представляющих актуальный срез состояния дел в области обеспечения доверенности изделий для разных стадий жизненного цикла: исследование, разработка, производство, поставка, эксплуатация.
АО «НИИЭТ» представлял инженер I категории с докладом на тему «Влияние радиационно-термической обработки на стойкость транзисторов с двойным подзатворным диэлектриком SiO2/Si3N4». Суть исследования сводилась к проверке применимости радиационно-термической обработки, как метода повышения стойкости изделия. В своей работе инженер I категории продемонстрировал, что из девяти исследованных транзисторов, после проведения радиационно-термической обработки, один оказался стойким к дозовым воздействиям. При этом его стойкость выросла больше, чем на порядок. Выводы, полученные на основании проведенного анализа, послужат фундаментом для дальнейших исследований в данной области.
Слушателями доклада выступили более 30 экспертов научного сообщества, которые высоко оценили исследовательскую работу воронежского инженера.
Изучение данной темы проводились еще в 80-90-х годах прошлого столетия, но достаточно убедительных и качественных исследований проведено не было. Поэтому положительные результаты в этом направлении в наши дни вызывает сильную заинтересованность, сопряженную с недоверием к работоспособности данной технологии.
Сам же инженер I категории остался очень доволен участием в предконференции. Посещение подобных мероприятий помогает молодым специалистам получиться позитивный опыт выступлений перед видными деятелями профессионального сообщества и позволяет познакомиться с коллегами, представляющими многие крупные научные центры нашей страны.
Всего на мероприятии очно присутствовали 124 участника, а еще 255 специалистов подключились онлайн. Заслушано было 80 докладов. Традиционно к участию в деловой программе приглашаются представители профильных министерства и ведомств, бизнеса, научно-производственных и образовательных учреждений.
