Испытательный стенд СИТ Д-70 разработанный НИИ электронной техники (входит в Группу «Элемент»), один из представителей флагманской линейки испытательных стендов, предназначен для проведения отбраковочных испытаний и испытаний ЭКБ на надёжность.
Максимальное количество испытываемых изделий – 70 шт. Но линейка оборудования предусматривает также стенды с загрузкой на 30 и 50 изделий.
Стенд оснащён компактными высокопроизводительными источниками питания. Для каждого изделия предусмотрена возможность формирования воздействующего сигнала необходимой частоты при помощи сенсорного дисплея.
Режимы электрической нагрузки включают задание и контроль напряжений и токов. При этом статический режим характеризуется постоянными значениями напряжения и тока, а в динамическом режиме напряжение и ток подаются в виде импульсов с регулируемой длительностью и скважностью с возможностью модуляции импульса заданной частотой.
Основным преимуществом стенда является то, что он обеспечивает высокое качество испытаний, которое достигается благодаря контактному методу термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом. Теплоотводящие пластины контактируют с верхней поверхностью корпуса компонента, и излишнее тепло отводится посредством теплоносителя (хладагента), циркулирующего во внутреннем контуре.
Поскольку испытаниям могут подвергаться не только компоненты с высокой рассеиваемой мощностью, требующие охлаждения при большой нагрузке, но и приборы, которые при работе выделяют сравнительно малую мощность и которые необходимо дополнительно нагревать для обеспечения теплового режима испытаний, в стенде предусматривается использование нагревателей теплоносителя. При этом нагрев испытываемого прибора осуществляется с помощью тех же теплоотводящих пластин.
Еще одно преимущество заключается в том, что, в отличие от стандартных стендов для термоэлектротренировки ЭКБ, стенд «СИТ» обеспечивает контроль температуры каждого изделия в отдельности.
Кроме того, стенд обладает высокой универсальностью: он предусматривает возможность проведения испытаний изделий в различных корпусах за счет применения сменной оснастки. Оборудование позволит проводить испытания не только дискретных силовых компонентов, но и сборок, модулей и микросхем.