Цена по запросу

Изделие находится на стадии макетирования и определения основных параметров. Представленные здесь данные со временем могут быть изменены.
Автоматическая камера для проведения испытаний на воздействие теплового удара интегральных микросхем и полупроводниковых приборов предназначена для проведения испытаний ЭКБ по методу 205-3 ГОСТ РВ 5962 – 004.2 – 2012.
Cкачать коммерческое предложение

Установка включает в себя следующие основные компоненты:
• камера тепла, выполненная из нержавеющей стали, с нагревательным элементом мощностью 2 кВт, обеспечивающая режим испытаний от +30 до +200⁰С;
• камера холода, обеспечивающая два режима проведения испытаний:
– в жидкостной среде (спирт) в диапазоне температур от 0 до -60°С;
– в жидкостной среде (жидкий азот) при -196°С.
• рабочие термопары;
• устройство автоматического перемещения испытуемых образцов;
• корзина;
• электронный блок управления (ЭБУ);
• система автоматической подачи азота;
• вентиляционный короб;
• защитный кожух
 
Область применения: испытания ЭКБ
 
Основные параметры:
• питание стенда осуществляется от однофазной трехпроводной сети переменного тока напряжением 220 В частотой 50 Гц;
• габаритные размеры установки, не более:
– ширина: 81 см;
– высота: 165 см;
– глубина: 65 см;
– масса стенда, не более: 160 кг.
• электрическая мощность, потребляемая стендом, не более: 3,5 кВт;
• диапазон воспроизводимой температуры в камере тепла: от +30 до +200°С;
• диапазон воспроизводимой температуры в камере холода: от 0 до -60; -196 °С;
• время достижения максимальной (минимальной) температуры, не более: 30 мин;
• допустимое отклонение температуры от заданного значения:
– при -196°С: не нормируется;
– от -70 до 0 °С: ± 3°С;
– от +30 до +200°С: ± 3°С.
 

Чертеж корпуса (находится в разработке)

3D-модель (находится в разработке)